KDS晶振,32.768K晶振,DST210A晶振
频率:32.768KHZ
尺寸:2.0*1.2mm
32.768KHz千赫子时钟晶体,其本身主要应用在时钟控制产品,或者是控制模块,主要给时钟芯片提供一个基准信号,其主要各项功能还得看应用何种产品.
本产品具有小型,薄型,轻型的贴片晶振表面型音叉式石英晶体谐振器,
请选择正规【KDS晶振代理商金洛电子】产品特点贴片晶振本身体积小,超薄型石英晶体谐振器,特别适用于有目前高速发展的高端电子数码产品,因为晶振本身小型化需求的市场领域,小型?薄型是对应陶瓷谐振器(偏差大)和普通的石英晶体谐振器(偏差小)的中间领域的一种性价比较出色的产品.产品广泛用于笔记本电脑,无线电话,卫星导航HDD, SSD, USB, Blu-ray等用途,符合无铅焊接的高温回流焊曲线特性.
KDS晶振,32.768K晶振,DST210A晶振,2012晶振系列产品本身具有体积小,厚度薄,重量轻等特点,此音叉型石英晶体谐振器,晶振产品本身具备优良的耐热性,耐环境特性,在办公自动化,家电领域,移动通信领域可发挥优良的电气特性,符合无铅标准,满足无铅焊接的回流温度曲线要求,金属外壳的石英晶振使得产品在封装时能发挥比陶瓷晶振外壳更好的耐冲击性能.
|
KDS晶振 |
单位 |
DST210A晶振 |
石英晶振基本条件 |
|
标准频率 |
f_nom |
32.768KHZ |
标准频率 |
|
储存温度 |
T_stg |
-40°C ~ +125°C |
裸存 |
|
工作温度 |
T_use |
-40°C ~ +85°C |
标准温度 |
|
激励功率 |
DL |
200μW Max. |
推荐:1μW ~ 100μW |
|
频率公差 |
f_— l |
±50 × 10-6 (标准), |
+25°C 对于超出标准的规格说明, |
|
频率温度特征 |
f_tem |
±30 × 10-6/-20°C ~ +70°C |
超出标准的规格请联系我们. |
|
负载电容 |
CL |
12.5pF ~ ∞ |
不同负载要求,请联系我们. |
|
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C, DL = 100μW |
|
频率老化 |
f_age |
±5 × 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
耐焊性
加热包装材料至+150°C以上会破坏产品特性或损害谐振器。如需在+150°C以上焊接晶体产品,建议使用SMD晶体。在下列回流条件下,对晶体产品甚至SMD晶振使用更高温度,会破坏产品特性。建议使用下列配置情况的回流条件。安装这些产品之前,应检查焊接温度和时间。同时,在安装条件更改的情况下,请再次进行检查。如果需要焊接的晶体产品在下列配置条件下进行焊接,请联系我们以获取耐热的相关信息。
· (1)柱面式产品和DIP产品
|
型号 |
焊接条件 |
|
[ 柱面式 ] |
+280°C或低于@最大值5 s |
|
[ 柱面式 ] |
+260°C或低于@最大值 10 s |
(2)SMD产品回流焊接条件(实例)
用于JEDEC J-STD-020D.01回流条件的耐热可用性需个别判断。请联系我们以便获取相关信息。
尽可能使温度变化曲线保持平滑。KDS晶振,32.768K晶振,DST210A晶振

振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。
此外,振荡频率与测量点不同。
1。测量缓冲输出
2。振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出
图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。
公司名:深圳市金洛鑫电子有限公司
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手机:13510569637
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