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M12526JM25.000000MHz,2520切割SMT晶体,M1252测试设备振荡器
M12526JM25.000000MHz,2520切割SMT晶体,M1252测试设备振荡器,M12526JM25.000000MHz是一款隶属于M1252系列的测试设备晶振专用振荡器,采用2520切割工艺的SMT晶体(封装尺寸2.5mm×2.0mm),输出频率精准锁定在25.000000MHz.测试设备(如示波器,信号发生器)对时钟信号的稳定性与纯度要求极高,该晶振通过2520切割工艺优化晶体谐振特性,Q值高达1.2×10^6,在-40℃至+85℃工作温度范围内,频率偏差可控制在±15ppm以内,确保测试数据的准确性与重复性.SMT封装设计适配测试设备电路板的自动化贴片生产,大幅提升组装效率,同时25.000000MHz频率能精准匹配测试设备的信号采样与分析需求,为电子元器件质检,电路故障诊断等场景提供可靠时基,助力测试设备实现高精度测量.更多 +
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