 
电子行业有一个非常一致的趋势,直接取决于时间 - 随着技术越来越小,功耗降低的需求越来越高。解决石英晶体设计要求,取决于行业需求,已经成为至关重要的。ABRACON新的石英晶体电镀设计使得下一代Pierce振荡器能够在能够保持振荡的情况下运行在烟雾上。Abracon的新型IoT优化晶体系列目前在世界上提供了最低的负载电容选项。
	 
 
	 
	Abracon晶振,贴片晶振,ABM7晶振.6.0*3.5mm的陶瓷外壳封装的晶体产品多年来一直活跃在国际市场上,大多数海内外知名的晶振品牌都有生产6035贴片谐振器产品,但美国Abracon公司的这款ABM7晶振与日系同款产品最为相似,并且品质高,低成本,而且还有一个特点,这款晶体可以在引脚1上使用倒角制造,并不会影响电气特性.
贴片晶振晶片边缘处理技术:贴片晶振是晶片通过滚筒倒边,主要是为了去除石英晶振晶片的边缘效应,在实际操作中机器运动方式设计、滚筒的曲率半径、滚筒的长短、使用的研磨砂的型号、多少、填充物种类及多少等各项设计必须合理,有一项不完善都会使晶振晶片的边缘效应不能去除,而石英晶振晶片的谐振电阻过大,用在电路中Q值过小,从而电路不能振动或振动了不稳定。
	 
	 
| Abracon晶振 | 单位 | ABM7晶振 | 石英晶振基本条件 | 
| 标准频率 | f_nom | 8.000MHZ~50.000MHz | 标准频率 | 
| 储存温度 | T_stg | -40°C~+90°C | 裸存 | 
| 工作温度 | T_use | -10°C~+60°C | 标准温度 | 
| 激励功率 | DL | 100μW Max. | 推荐:1μW~100μW | 
| 频率公差 | f_— l | ±50 × 10-6(标准) | 
					+25°C对于超出标准的规格说明, | 
| 频率温度特征 | f_tem | ±50 × 10-6/-20°C~+70°C | 超出标准的规格请联系我们. | 
| 负载电容 | CL | 18pF | 不同负载要求,请联系我们. | 
| 串联电阻(ESR) | R1 | 如下表所示 | -40°C — +85°C,DL = 100μW | 
| 频率老化 | f_age | ±5 × 10-6/ year Max. | +25°C,第一年 | 
	 
 
	 
	 
	 
 
	 
贴片晶振可能会在某些条件下受到损坏。例如从桌上跌落或在贴装过程中受到冲击。如果产品已受过冲击请勿使用。
辐射
暴露于辐射环境会导致石英晶体性能受到损害,因此应避免照射。
化学制剂 / pH值环境
请勿在PH值范围可能导致腐蚀或溶解进口晶振或包装材料的环境下使用或储藏这些产品。
粘合剂
请勿使用可能导致SMD晶振所用的封装材料,终端,组件,玻璃材料以及气相沉积材料等受到腐蚀的胶粘剂。 (比如,氯基胶粘剂可能腐蚀一个晶体单元的金属“盖”,从而破坏密封质量,降低性能。)
卤化合物
请勿在卤素气体环境下使用无源晶振。即使少量的卤素气体,比如在空气中的氯气内或封装所用金属部件内,都可能产生腐蚀。同时,请勿使用任何会释放出卤素气体的树脂。Abracon晶振,贴片晶振,ABM7晶振
静电
过高的静电可能会损坏石英晶体谐振器,请注意抗静电条件。请为容器和封装材料选择导电材料。在处理的时候,请使用电焊枪和无高电压泄漏的测量电路,并进行接地操作。
	 
 
	 
	振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。Abracon晶振,贴片晶振,ABM7晶振
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。
	 
	此外,振荡频率与测量点不同。
1、测量缓冲输出
2、振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出
	 
	图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。
 
		

 
 
                         Vectron晶振,6035晶振,VXE4晶振
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