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IDT晶振,石英晶体振荡器,XLH晶振

IDT晶振,石英晶体振荡器,XLH晶振IDT晶振,石英晶体振荡器,XLH晶振

产品简介

三阶Delta Sigma调制器将噪声降低至与传统散装石英和SAW振荡器.交货期短,成本低,噪音低,频率范围宽,环境性能优异,是传统技术的绝佳选择. XLH具有±20ppm的稳定性,标准和定制频率的交付极快.

产品详情

IDT-1

IDT以其智能传感器和行业领先的时间组合来处理汽车应用。IDT在德国的全资子公司- IDT欧洲有限公司(前身为ZMD AG)运营其卓越的汽车中心。IDT是为4G、5G和云计算等无线基础设施应用而设计的高性能的领先创新者。解决方案包括行业领先的射频信号链产品,串行RapidIO®,和先进的时机。
IDT积极提高产品和包装,以产生最快、最可靠的设备。然而,由于产品性能往往受到其实现的影响,因此建议仔细考虑影响设备运行温度的因素,以达到最好的效果。IDT的集成电路用于世界各地的通信、计算和消费行业。IDT总部位于加州圣何塞市,在世界各地都设有设计、运营和销售设施。
JLX-1

IDT-2

IDT晶振,压控振荡器,8N0QV01晶振.贴片式vcxo石英晶体振荡器,低电压启动功率,并且有多种电压供选择,比如有1.8V,2.5V,3.3V,3.8V,5V等,产品被广泛应用于,平板笔记本,GPS系统,光纤通道,千兆以太网,串行ATA,串行连接SCSI,PCI-Express的SDH / SONET发射基站等领域.符合RoHS/无铅.
与其它电子元件相似,石英晶体振荡器亦采用愈来愈小型的封装。通常,较小型的器件比较大型的表面贴装或穿孔封装器件更昂贵。所以,小型封装的石英晶振往往要在性能、输出选择和频率选择之间作出折衷。
JLX-2

RB-2

IDT晶振

标示

型号+晶振

晶振基本信息对照表

标准范围

f0

1.0MHz50.MHz

電源電圧

Vcc

2.5V、+2.8V、+3.3V

输出电流

Icc

3.5 mA max.

Vcc=3.3V

频率负载

L_CMOS

15pF

CMOS出力

标准频率偏差

f_tol

±25±50±100×10-6 max.

初期偏差、
周波数温度特性、
電源、負荷変動特性、
経時変化(1年、+25℃時)

输出电压

V

VOH:Vcc×90% min.VOL:Vcc×10% max.

对称

SYM

40%60%

50% Vcc

标准时间

tr/tf

12 ns max.(1.880MHz)

10%Vcc90%L_CMOS=15pF

JLX-3

RB-3

8N0QV01-7050 VCXO

JLX-4

RB-4

噪音
在电源或输入端上施加执行级别(过高)的不相干(外部的)噪音,可能导致会引发功能失常或击穿的闭门或杂散现象。
电源线路
电源的线路阻抗应尽可能低。
输出负载
建议将输出负载安装在尽可能靠近石英振荡器的地方(在20 mm范围之间)。
未用输入终端的处理
未用针脚可能会引起噪声响应,从而导致非正常工作。同时,当P通道和N通道都处于打开时,电源功率消耗也会增加;因此,请将未用输入终端连接到VCC 或GND。
热影响
重复的温度巨大变化可能会降低受损害的有源晶振的产品特性,并导致塑料封装里的线路击穿。必须避免这种情况。
安装方向
进口晶体振荡器的不正确安装会导致故障以及崩溃,因此安装时,请检查安装方向是否正确。
通电
不建议从中间电位和/或极快速通电,否则会导致有源晶体无法产生振荡和/或非正常工作。

JLX-5

RB-5

振荡电路的检查方法
振荡频率测量
必须尽可能地测量安装在电路上的谐振器的振荡频率的真实值,
使用正确的方法。在振荡频率的测量中,通常使用探头和频率计数器。然而,
我们的目标是通过限制测量工具对振荡电路本身的影响来测量。
有三种频率测量模式,如下面的图所示(图)。2, 3和4)。最
精确的测量方法是通过使用任何能够精确测量的频谱分析仪来实现的。
接触振荡电路。
探针不影响图2,因为缓冲器的输出是通过输入振荡电路的输出来测量的。
逆变器进入下一阶段。
探针不影响图3,因为在IC上测量缓冲器输出(1/1、1/2等)。
图4示出了来自ic的无缓冲器输出接收的情况,由此通过小尺寸测量来最小化探针的效果。
输出点之间的电容(3 pF以下XTAL终端IC)和探针。
然而,应该注意到,使用这种方法输出波形较小,测量不能依赖于
即使示波器能检查振荡波形,频率计数器的灵敏度也可以。在这种情况下,使用放大器来测量。

cptj

此外,振荡频率与测量点不同。
1。测量缓冲输出
2。振荡级输出测量
三.通过电容器测量振荡级输出

cptj_1

图5示出以上1-3个测量点和所测量的
除缓冲器输出外,振荡频率较低。

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